PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱樣品桿，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。該系統(tǒng)使研究者可以在原子尺度上實時觀測催化反應、氧化還原反應、低維材料生長/合成以及各類腐蝕反應，將您的透射電鏡從一臺靜態(tài)成像工具升級為一套功能強大的納米實驗室。

• 系統(tǒng)組成

△ 原位氣氛環(huán)境樣品桿：由樣品桿主體、氣流通道、四電極加熱模塊和MEMS反應微腔組成。樣品被安置于上下兩片MEMS芯片以及配套的O圈組成的密封微腔內(nèi)。

△ 真空檢漏系統(tǒng)：由進口分子泵組、高真空腔體和高倍顯微鏡組成。用于實驗前驗證MEMS反應微腔密封情況，確保在TEM中抽真空后不會有氣體泄漏。

△ MEMS反應微腔：由上下兩片MEMS芯片組成，用于搭載實驗樣品。樣品觀測區(qū)域覆蓋有高質(zhì)量、高透過率的氮化硅薄膜窗口，窗口上覆蓋有四電極加熱區(qū)域，樣品搭載在加熱電極上。該MEMS反應微腔與外接氣路通道以及加熱模塊高度耦合，從而在TEM中實現(xiàn)氣氛環(huán)境與高溫環(huán)境準確可控的原位觀測。

△ 氣氛環(huán)境控制箱：由三通道混氣模塊、渦輪真空泵、氣壓控制模塊、氣流控制模塊及配套附件組成。用于在實驗中準確、穩(wěn)定地控制MEMS反應微腔中的氣氛環(huán)境，控制微反應腔中的氣壓及氣體流速。

△ 高性能PC及配套控制軟件：該系統(tǒng)中的加熱及氣氛環(huán)境均為軟件控制，多種工作模式可選，功能強大，方便易用。

△ 溫控儀：用于控制MEMS反應微腔中的溫度，四個電極通道，帶溫度反饋。

△ 樣品桿載具、裝樣附件及其他工具。

• 性能指標

透射電鏡指標：

△ 兼容型號電鏡及極靴；

△ 通氣后透射電子顯微鏡分辨率優(yōu)于0.1 nm。

加熱指標：

△ 溫度范圍：室溫至800 ℃；

△ 溫度準確度：優(yōu)于5% ；

△ 溫度穩(wěn)定性：優(yōu)于±0.1 ℃；

△ 四電極加熱，帶溫度反饋；

△ 軟件控制。

氣體流動指標：

△ 三通道混氣

△ 氣壓范圍：0 - 1 Bar；

△ 氣壓準確度：30 mBar；

△ 氣體流速： 0.01 - 0.4 ml/min；

△ 可通氣體：H2, N2, O2, He, Ar, CO, CO2, CxHy等；

△ 軟件控制。

MEMS反應微腔指標：

△ 高質(zhì)量氮化硅膜厚度25 nm；

△ 樣品漂移優(yōu)于0.7 nm/min。